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簡要描述:產(chǎn)品概述 UV-B雙通道紫外輻照計采用SMT貼片技術,選用精度好低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設計,探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正,性能好,適用性強
產(chǎn)品概述
UV-B雙通道紫外輻照計采用SMT貼片技術,選用精度好低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設計,探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正,性能好,適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
產(chǎn)品特點
光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正
數(shù)字液晶顯示,帶背光
手動/自動量程切換
數(shù)字輸出接口(USB,冗余供電)
低電量提醒
自動過時關機
有數(shù)字保持
輕觸按鍵操作,蜂鳴提示
產(chǎn)品技術參數(shù)
項目 | 參數(shù) | 備注 |
波長范圍λ1,峰值波長λp | (230~275)nm,λP=254nm | 配備兩只探頭 |
波長范圍λ2,峰值波長λp | (275~330)nm,λP=297nm | |
輻照度測量范圍 | (0.1~199.9×103) μW/cm2 | |
紫外帶外區(qū)雜光 | UV254<0.1%,uv297<0.05% | |
相對示值誤差 | ±8%(相對于NIM標準) | |
角度響應特性 | ±5% (α≤10°) | |
線性誤差 | ±1% | |
換檔誤差 | ±1% | |
短期不穩(wěn)定性 | ±1%(開機30min后) | |
疲勞特性 | 衰減量<2% | |
零值誤差 | 滿量程的±1% | |
響應時間 | <1秒 | |
使用環(huán)境 | 溫度(0~40)℃;濕度<85%RH | |
尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm;0.2kg | |
電源 | 6F22型9V積層電池(非充電電池) | |
整機功耗 | <0.1VA |
參數(shù)以廠家公布為準。
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